Imageries et analyses
Stéréomicroscope codé Leica M125 C
Date d'acquisition: 24/10/2019
Le microscope stéréoscopique est équipé d'une caméra numérique Leica DMC2900, associée au logiciel d'acquisition et traitement Leica Application Suite.
Ce microscope dispose de:
- deux modes d'éclairage Led:
- un éclairage led col de signe (2 bras)
- un éclairage led annulaire
- deux objectifs
- 0,5x PLAN série M
- PLANAPO 1.0X, M-Series
- Caractéristiques optiques (objectif 1×/oculaires 10×):
- plage de zoom: 8x-100x
- résolution: max: 432 pl/mm
- distance de travail: 61,5mm ou 135mm
- champ d’objet: D28,8mm - 2,3mm
- Résolution jusqu'à 864 lp/mm (avec objectif 2.0x)
Le dispositif permet une première approche des matériaux avec des grossissements de 8 (8x) à 100 (100x) fois, pour un ratio du zoom de 12.5:1.
Le microscope optique Nikon LV100
Date d'acquisition: Décembre 2006
Le microscope optique polarisant Nikon LV100 est associé avec la caméra ccd Nikon DS-2Mv et le logiciel NIS Element BS. Le microscope est équipé de 5 optiques 2,5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x et de deux sources de lumière, à savoir une lumière blanche ou une lumière ultraviolette (illuminateur d’épi-fluorescence Intensilight associée à l'utilisation d'un pigment fluorescent).
Dans le cadre de nos activités, la microscopie optique est principalement utilisée pour deux objectifs:
- Visualiser la forme et la couleur de particules millimétriques à centimétriques
- Analyser la structure d'un sol pour obtenir notamment la porosité par des observations de surfaces imprégnées (par analyse d'image)
Le LV100 permet d'analyser des surfaces de quelques µm² sur une unique image, jusqu'à plusieurs cm² par maillage logiciel.
Le dispositif de micro fluorescence X Brucker M4 tornado
Date d'acquisition: Mai 2010
La spectroscopie par fluorescence X est une méthode permettant de déterminer la composition d'échantillons solides, liquides ou en poudre, mesurer l’épaisseur de couches et réaliser l’analyse élémentaire d’échantillons principalement inorganiques pour une grande variété d'applications. La µXRF est particulièrement efficace pour trouver des traces de métaux et autres éléments lourds.
Ce dispositif propose deux grossissements photos, 10x et 100x permettant de visualiser les zones de mesure et d'acquérir des cartographies de quelques mm² (simple acquisition), jusqu'à plusieurs centaines de mm² (maillage d'acquisition automatique).
Quelques caractéristiques
- Tube à rayon X
- Détecteur XFlash silicon drift de 30 mm²
- Taille du spot : 25 µm
- Taille de chambre (L x l x H): 600 mm x 350 mm x 260 mm
- Plateau échantillon (L x l): 330 mm x 170 mm x 260 mm
- Poids max. échantillon: 5 kg
- Zone de cartographie max. (Lxl): 190 mm x 160 mm
Le microscope électronique à balayage Hitachi SU5000 (MEB ou SEM)
Date d'acquisition: Avril 2016
Le MEB est un type de microscope qui utilise un faisceau de particules d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une image très agrandie. Sur chaque point sur l'échantillon le faisceau d'électrons incident entre en collision avec la matière et perd de l'énergie. Cette perte d'énergie est convertie en autres formes, comme la chaleur, l'émission d'électrons secondaires de basse énergie, l'émission de lumière (cathodoluminescence) ou l'émission de rayons X.
Le SU5000 est un microscope à émission de champ (FEG) à cathode chaude avec cinq détecteurs et deux conditions de fonctionnement:
Les détecteurs
- Détecteur d'électrons secondaires (Topographie-SE)
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés (contraste atomique-BSE)
- Détecteur EDX Xflash Brucker fenêtre 10 mm² (analyse chimique-EDX) - Mars 2007
- Détecteur SE Low Vaccum (Topographie en vide dégradé-SELV)
- Détecteur in-lens, dans la colonne (Topographie-TTL)
Les conditions
- Mode haut vide (HV)
- Mode bas vide (LV) entre 10Pa et 300Pa
Quelques caractéristiques
Capacités platine
- Axe X: -60 à 40 mm
- Axe Y: -25 à 25 mm
- Axe Z: 3 à 65 mm
Dimension max. de l'échantillon
- Taille max: 200 mm de diamètre
- Poids max: 500g
- Hauteur max: 80 mm
Gamme de tension
- 0.5 à 30 kV
Résolution
- 2.0 nm à 1kV (*1)
- 1.2 nm à 30kV
- 3.0 nm à 15kV Low vacuum mode (*2)
Grandissement
- Photo: 10-600,000 fois
- Ecran: 18-1,000,000 fois